SWIR・深紫外を活用した外観検査ソリューションのご紹介

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昨年12月に開催した「CCS OpenWorld in 2025 横浜」で講演し好評いただいたセミナーに、新たにハイパースペクトルイメージングの事例を追加したオンラインセミナーを開催します。

可視光照明では困難だったワーク特徴の可視化を実現する、赤外や紫外の波長領域を活用した外観検査の事例や、赤外を含む幅広い波長の光を分析し可視化することで、成分分析や異物検出、薄膜の厚み測定、高精度な色識別などを実現する事例をご紹介します。

1000nmまでの波長では難しかった、SWIR^※を活用した透過検査の解決事例や、複数の赤外波長を組み合わせ、光学系を最適化して材質を分類する事例、深紫外～近紫外を活用した、透明体の可視化などの事例について解説します。

※SWIR: Short Wavelength InfraRed (短波赤外)

開催日時	2026年3月12日(木) 14：00　～　15：00（終了予定）
セミナー内容	会社紹介 SWIR活用事例 NIR(近赤外)とSWIR(短波赤外)の活用事例高出力赤外光源の事例紹介マルチバンド照明の事例紹介深紫外活用事例深紫外の特徴を活用した事例紹介 UVモニタリングセンサの活用事例ハイパースペクトルイメージング照明の活用事例サービス・サポート紹介
講師	シーシーエス株式会社　MVソリューション部多摩川健
参加方法	セミナーは終了いたしました。ご視聴ありがとうございました。
定員 / 参加費	500名様（先着順）/ 参加費無料 1メールアドレスにつき1名のご参加となります。 Gmail、Yahoo!メール、Hotmailなどのフリーメールアドレスでのお申込みはご遠慮ください。同業他社様のお申込みはご遠慮ください。
注意事項	本セミナーは、Zoomを利用して配信いたします。その他注意事項につきましては以下のページをご確認ください。オンラインセミナーをご聴講いただく皆様へ
お問合せ先	シーシーエス株式会社　イベント事務局 TEL：075-415-8277 Email：sales@ccs-inc.co.jp

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