半導体部品業界の照明撮像事例

電子部品(チップ部品)の電極検査

電子部品(チップ部品)の電極検査
ワーク
電子部品
改善前
LEDバー照明での撮像
LEDバー照明

バー照明では、電極部分を撮像することは困難。

改善後
LDR2-32RD2での撮像
LDR2-32RD2

リング照明を使うことで、
電極部分を均一に照射して撮像することが可能。

構成例
内容 外観検査
ワーク 電子部品
提案前 LEDバー照明
提案後 LDR2-32RD2
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • リング照明 LDR2-32RD2
    リング照明 LDR2-32RD2
    • スタンダードなリング照明
    • LEDの温度上昇を大幅に抑えることに成功
    • 高密度に実装されたLEDから、中心部に向けて直射光を集中するように照射

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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ボタン型電池のキズ・外観検査

ボタン型電池のキズ・外観検査
ワーク
ボタン型電池
改善前
LEDリング照明での撮像
LEDリング照明

ボタン型電池の外形や表面のキズを撮像することは困難。

改善後
LDR-75RD2-LA1での撮像
LDR-75RD2-LA1

外形や表面のキズを明確に撮像することが可能。

構成例
内容 外観検査
ワーク ボタン型電池
提案前 LEDリング照明
提案後 LDR-75RD2-LA1
結果 キズを抽出
撮像に利用した照明
  • リング型ローアングル照明 LDR-75RD2-LA1
    リング型ローアングル照明 LDR-75RD2-LA1
    • LEDが水平方向に向き合う形でリング状に配置した照明
    • ワークに最も近い距離から照射
    • 厚みが10mmの薄型設計

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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基板上の文字検査

基板上の文字検査
ワーク
基板
改善前
マクロレンズ+LEDスポット照明での撮像
マクロレンズ+LEDスポット照明

同軸落射による照射では、表面状態を認識することは困難。

改善後
SQR-TP-34RDでの撮像
SQR-TP-34RD

基板上の文字やチップ部品の文字、ハンダメッキを撮像可能

撮像に利用した照明
  • リング照明 SQR-TP-34RD
    リング照明 SQR-TP-34RD
    • 角型の筐体に表面実装型LEDをリング状に配置
    • 角度のある発光部からローアングルで直射光を照射

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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エンボステープ内電子部品の印字検査

エンボステープ内電子部品の印字検査
ワーク
エンボステープ内の電子部品
改善前
LEDリング照明での撮像
LEDリング照明

表面の反射の影響で、安定した検査は困難。

改善後
HPR2-75RDでの撮像
HPR2-75RD

表面の反射をおさえて、印字を撮像することが可能。

構成例
内容 印字検査
ワーク エンボステープ内の電子部品
提案前 LEDリング照明
提案後 HPR2-75RD
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • リング照明 HPR2-75RD
    リング照明 HPR2-75RD
    • 高出力で均一な拡散光の照射が可能
    • ローアングルからハイアングルまで対応
    • フルカラー(RGB)タイプをラインアップし応用力を向上

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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電球の口金のハンダ部分検査

電球の口金のハンダ部分検査
ワーク
電球
改善前
LED拡散光照明での撮像
LED拡散光照明

ハンダ部全体を均一に照射することは困難。

改善後
LKR-125SW2での撮像
LKR-125SW2

口金部分を含めて全体を均一に照射することが可能

構成例
撮像に利用した照明
  • リング照明 LKR-125SW2
    リング照明 LKR-125SW2
    • 円形の導光拡散板の周囲にLED を埋め込むように配置
    • ワークに対して角度のある発光面から均一拡散光を照射

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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パソコン用メモリの外観検査

パソコン用メモリの外観検査
ワーク
パソコン用メモリ
改善前
FPQ2-120SWでの撮像
FPQ2-120SW

メモリーの外観を均一に撮像することは困難。

改善後
FPQ3-100X50SWでの撮像
FPQ3-100X50SW

メモリーの外観を均一に撮像することが可能

構成例
内容 外観検査
ワーク パソコン用メモリ
提案前 FPQ2-120SW
提案後 FPQ3-100X50SW
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • 角型ローアングル照明 FPQ3-100X50SW
    角型ローアングル照明 FPQ3-100X50SW
    • 4方向から均一拡散光をローアングルで照射
    • 四角形のワークに最適(四隅の輪郭の検出や映り込みを防いだ撮像など)
    • 8サイズ全24機種をラインアップ

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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電子部品(水晶振動子)の外観検査

電子部品(水晶振動子)の外観検査
ワーク
水晶振動子
改善前
FPQ3 シリーズ 反射板なしでの撮像
FPQ3 シリーズ

ローアングルからの照射で、刻印文字を観察可能。

改善後
FPQ3 シリーズ 反射板なしでの撮像
FPQ3 シリーズ

ローアングルと上部からの照射で、
文字と汚れを同時に観察可能

構成例
内容 外観検査
ワーク 水晶振動子
提案前 反射板なし
提案後 反射板あり
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • 角型ローアングル照明 FPQ3 シリーズ
    角型ローアングル照明 FPQ3 シリーズ
    • 4方向から均一拡散光をローアングルで照射
    • 四角形のワークに最適(四隅の輪郭の検出や映り込みを防いだ撮像など)
    • 8サイズ全24機種をラインアップ

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
    詳細は、営業担当にお問い合わせください。

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コネクタピンの外観検査

コネクタピンの外観検査
ワーク
コネクタ
改善前
LDL2-74X30SW2-WDでの撮像
LDL2-74X30SW2-WD

ワーク前面からの照射により、コネクタ表面の状態を観察することが可能。

改善後
LDL2-74X30SW2-WD+拡散板での撮像
LDL2-74X30SW2-WD+拡散板

ワーク背面から照射することで、コネクタ外観を観察することが可能(拡散板使用)。

撮像に利用した照明
  • バー照明 LDL2-74X30SW2-WD
    バー照明 LDL2-74X30SW2-WD
    • 表面実装型LEDを採用したバー照明
    • 141機種の豊富なラインアップ
    • 照射方向や照射角度を自由に調節可能

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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電子部品(レギュレータ)の外観撮像

電子部品(レギュレータ)の外観撮像
ワーク
電子部品(レギュレータ)
改善前
改善前の撮像

明確な撮像が困難。

改善後
TH2-63X60SW
TH2-63X60SW

樹脂部や端子の外観を明確に捉えている

構成例
撮像に利用した照明
  • フラット照明 TH2-63X60SW
    フラット照明 TH2-63X60SW
    • 高輝度化を実現したフラット照明
    • 豊富な製品バリエーション
    • 環境に合わせて、取り付け自由

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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電子部品(コンデンサ)の文字検査

電子部品(コンデンサ)の文字検査
ワーク
電子部品(コンデンサ)
改善前
LED拡散光リング照明での撮像
LED拡散光リング照明

表面のヘアラインの影響で、印字の読み取りは困難。

改善後
LFXV-25RDでの撮像
LFXV-25RD

ヘアラインにの影響を抑え、印字を読み取ることが可能。

構成例
内容 外観検査
ワーク 電子部品(コンデンサ)
提案前 LED拡散光リング照明
提案後 LFXV-25RD
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • フラットドーム照明 LFXV-25RD
    フラットドーム照明 LFXV-25RD
    • フラットな筐体でドーム照明の効果を再現
    • 新開発の導光板を採用することで、クリアで明るい視野を実現
    • ドットパターンによる画像ムラやモアレを低減

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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ボタン電池の文字検査

ボタン電池の文字検査
ワーク
ボタン電池
改善前
LEDドーム照明での撮像
LEDドーム照明

表面処理の影響で、印字が読み取れない。

改善後
LFX3-100RDでの撮像
LFX3-100RD

表面処理の影響なく、印字を明確に撮像することが可能。

構成例
内容 文字認識
ワーク ボタン電池
提案前 LEDドーム照明
提案後 LFX3-100RD
結果 文字を強調
撮像に利用した照明
  • フラットドーム照明 LFX3-100RD
    フラットドーム照明 LFX3-100RD
    • フラットな筐体でドーム照明の効果を再現
    • 高出力で高速検査に対応
    • 28機種の豊富なラインアップ

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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プリント基板のスルーホール検査

プリント基板のスルーホール検査
ワーク
基板
改善前
LEDリング照明での撮像
LEDリング照明

リング照明では、下地とスルーホールの差を撮像することは困難。

改善後
LFV3-100RD(A)での撮像
LFV3-100RD(A)

下地とスルーホールの差を明確に撮像することが可能

構成例
内容 外観検査
ワーク 基板
提案前 LEDリング照明
提案後 LFV3-100RD(A)
結果 均一度向上
撮像に利用した照明
  • 同軸照明 LFV3-100RD(A)
    同軸照明 LFV3-100RD(A)
    • 高画素カメラに対応した同軸照明
    • カメラと同軸上から拡散光を均一に照射
    • 拡散効果を自由にカスタマイズ

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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ボタン電池の外観検査

ボタン電池の外観検査
ワーク
ボタン電池
改善前
LED 同軸照明での撮像
LED 同軸照明

同軸照明により、刻印文字を撮像することが可能。

改善後
MSU-30X20RD2での撮像
MSU-30X20RD2

通常の同軸照明よりも刻印文字を明確に撮像するとともに、表面の微妙な変化も捉えることが可能

撮像に利用した照明
  • 同軸照明 MSU-30X20RD2
    同軸照明 MSU-30X20RD2
    • 独自の照明技術で平行度の高い光を照射
    • 光沢表面上の微小なキズや打痕、凹み抽出が可能。

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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電子部品(コンデンサ)の寸法・形状検査

電子部品(コンデンサ)の寸法・形状検査
ワーク
電子部品(コンデンサ)
改善前
LEDフラット照明での撮像
LEDフラット照明

側面への照射光の回り込みがある。

改善後
MFU-34X-BLでの撮像
MFU-34X-BL

光の回り込みをおさえた撮像をすることが可能。

撮像に利用した照明
  • 同軸照明 MFU-34X-BL
    同軸照明 MFU-34X-BL
    • 独自の照明技術で平行度の高い光を照射
    • 使用する撮像側レンズに合わせて集光の調整が可能
    • 高い精度が必要な、寸法計測、キズ・シワ検査に最適

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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イメージセンサー基板の接着部検査

イメージセンサー基板の接着部検査
ワーク
イメージセンサー基板
改善前
LDR2-90SW2での撮像
LDR2-90SW2

白色照明では、接着部を捉えるのは困難。

改善後
LDL-138X12UV3-365-Wでの撮像
LDL-138X12UV3-365-W

紫外照明では接着剤が蛍光するため、接着部の観察が可能

撮像に利用した照明
  • 紫外照明 LDL-138X12UV3-365-W
    紫外照明 LDL-138X12UV3-365-W
    • 従来品UV2シリーズより最大2倍の高出力化
    • オーバードライブにも対応。検査速度の向上に
    • 蛍光観察、塗布検査、探傷検査などさまざまな検査用途に

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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半導体ウエハーのパターン検査

ワーク
ウエハー
改善前
LED可視光照明での撮像
LED可視光照明

異物の判別が困難。

改善後
赤外照明(1200nm)での撮像
LDL-222X42CIR

可視光では観察できないが、1200nmの波長を使用することで透過による観察が可能

撮像に利用した照明
  • 赤外照明 IR シリーズ 1000nm以上タイプ
    赤外照明 IRシリーズ 1000nm以上タイプ
    • 可視光照射ではできない観察が可能
    • 6種類の波長ラインアップ

    他にも様々な照明の形状・波長を取り揃えております。
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