二軸位相シフト照明
可視化が困難な浅い打痕やヒケ観察に有効な、縦縞×横縞パターンの高速点灯切替ができるLED照明
特長
- 専用の照明コントローラーで、縦縞4パターン・横縞4パターンの高速点灯切替を可能にしたLED照明
- ワーク表面の模様を除去して、凹凸部分のみを強調した画像の取得が可能で、可視化が困難な浅い打痕やヒケ観察に有効
- 発光基板112 × 112mmを最大8つまで組み合わせ可能な設計で、アプリケーションに合わせた同軸/透過などの撮像構成が可能
- 表面光沢のある金属部品や樹脂成型品等の打痕・キズ、透明樹脂成型品やガラス製品等のヒケ・脈理 などのアプリケーションに有効
二軸位相シフト照明
特注品
特許出願済
発光面サイズや形状、縞パターンの幅や数などの
カスタマイズや、同軸タイプの特注製作も可能です。
詳しくはお問合せください。
撮像と画像処理の仕組み（イメージ図）
①縦縞・横縞の計8パターンを
点灯切替しながら撮像
取得画像例（ラインカメラ）
②縦縞4枚 ・ 横縞4枚の8枚の画像に再構成し縞パターンの歪みを捉える
8枚の撮像画像
③各縞画像に対して画像処理を
行い、凹凸情報を取得
画像処理後
撮像事例
塗装された成形品の外観検査
ワーク
塗装された皿
撮像構成
正反射構成にてパターン撮像
画像処理後
塗装をキャンセルし、
凹凸部分のみ強調
パッケージの噛み込み検査
ワーク
包装材
撮像構成
正反射構成にてパターン撮像
画像処理後
印刷をキャンセルし、
シール目を強調
レンズの外観検査
ワーク
凸レンズ
撮像構成
透過構成にてパターン撮像
画像処理後
表面の薄いスジ・キズを強調
透明な樹脂ケースの外観検査
ワーク
プラスチック
撮像構成
透過構成にてパターン撮像
画像処理後
成形ムラの可視化
システム構成例
ラインカメラ事例
光屈折可視化システム評価キット Refview
光屈折可視化システム評価キット Refview
- 可視化が困難な浅い打コンやヒケ観察に有効な、評価用キットです。
- 光源に縞パターンを表示して対象物に投影し、位相を変えながら撮像を行い、画像処理することで、わずかな光の屈折や反射角度の差を可視化することが可能。
エリアカメラ事例
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